測量芯片電容質量（liàng）的主要（yào）方法有四種，由（yóu）芯片電（diàn）容的小部分組成（chéng），對芯片（piàn）電容的電路測量方（fāng）法進行了（le）簡要的（de）討論。

方法1：一般貼片電容的電阻值（zhí）為無窮大，代之以異常電阻值，容量變小，萬（wàn）用表無法（fǎ）測量，直接更換。

方法2：安全的（de）方法是用萬用表（biǎo）的兩（liǎng）極接地另一根針來測量電容器的兩端，分別對短路作出反應。

方法3：如果芯片電容短（duǎn）路，則可通過萬用表在線（xiàn）測量判（pàn）斷。如果電路開路，因為電容太小，無法用（yòng）萬用表（biǎo）測量（liàng），可使（shǐ）用筆連接220V火線（xiàn），將芯片電容的引腳放在筆帽上，查看霓虹燈泡是否發光，發光電（diàn）容好。否則，斷（duàn）開電路。220V電壓，但不在板實驗中。

方法4：電（diàn）阻值無限大，電阻值為零呼叫差，其他值應有一些小變化。